X線光電子分光法によ...

X線光電子分光法による定量的分析の応用例-2-

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X線光電子分光法による定量的分析の応用例-2-

国立国会図書館請求記号
Z17-9
国立国会図書館書誌ID
1930541
資料種別
記事
著者
広川 吉之助ほか
出版者
東京 : 日本分析化学会
出版年
1978-02
資料形態
デジタル
掲載誌名
分析化学 / 日本分析化学会 編 27(2) 1978.02
掲載ページ
p.Tp5~8
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資料詳細

要約等:

X線光電子分光法(XPS)による固体表面の定量的分析(標準試料を使用しないで濃度の相対比を求める方法)により表面層並びに表面下のある範囲の層の組成が決定できることを示した.ただし,固体表面層中2組以上の元素からの電子線の運動エネルギーが非常に近いスペクトル線同士が2種以上測定できる場合は非常に単純な...

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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
広川 吉之助
奥 正興
タイトル(掲載誌)
分析化学 / 日本分析化学会 編
巻号年月日等(掲載誌)
27(2) 1978.02
掲載巻
27
掲載号
2
掲載ページ
Tp5~8
掲載年月日(W3CDTF)
1978-02