巻号43(4)
劣化にともなう特性値...

劣化にともなう特性値分布の検討例,電解コンデンサの加速寿命実験の場合

記事を表すアイコン

劣化にともなう特性値分布の検討例,電解コンデンサの加速寿命実験の場合

国立国会図書館請求記号
Z16-185
国立国会図書館書誌ID
2049761
資料種別
記事
著者
塩見 弘ほか
出版者
つくば : 電子技術総合研究所
出版年
1979-04
資料形態
デジタル
掲載誌名
電子技術総合研究所彙報 / 電子技術総合研究所 編 43(4) 1979.04
掲載ページ
p.p242~267
すべて見る

全国の図書館の所蔵

国立国会図書館以外の全国の図書館の所蔵状況を表示します。

所蔵のある図書館から取寄せることが可能かなど、資料の利用方法は、ご自身が利用されるお近くの図書館へご相談ください

その他

  • CiNii Research

    検索サービス
    連携先のサイトで、CiNii Researchが連携している機関・データベースの所蔵状況を確認できます。

書誌情報

この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。

デジタル

資料種別
記事
著者・編者
塩見 弘
原田 友七
タイトル(掲載誌)
電子技術総合研究所彙報 / 電子技術総合研究所 編
巻号年月日等(掲載誌)
43(4) 1979.04
掲載巻
43
掲載号
4
掲載ページ
p242~267
掲載年月日(W3CDTF)
1979-04