イオンビームによる分...

イオンビームによる分析 (表面・界面・薄膜と分析化学<特集>)

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イオンビームによる分析(表面・界面・薄膜と分析化学<特集>)

国立国会図書館請求記号
Z17-9
国立国会図書館書誌ID
3744426
資料種別
記事
著者
藤本 文範
出版者
東京 : 日本分析化学会
出版年
1991-11
資料形態
デジタル
掲載誌名
分析化学 / 日本分析化学会 編 40(11) 1991.11
掲載ページ
p.p577~597
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資料詳細

要約等:

イオンビームを用いた,ラザフォード後方散乱法,チャネリング法,イオン散乱法,反跳法,核反応法,PIXE及びSIMS分析法の原理と応用について概説した.これらの方法は元素分析,表面と界面の構造,又,不純物原子の分布とその格子中の位置,結晶評価についての研究に非常に有効な方法であることを示した.(提供元...

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
藤本 文範
著者標目
タイトル(掲載誌)
分析化学 / 日本分析化学会 編
巻号年月日等(掲載誌)
40(11) 1991.11
掲載巻
40
掲載号
11
掲載ページ
p577~597