ICTS法によるSi-MOS界面準位の測定

掲載誌名: 電気学会論文誌. C, 電子・情報・システム部門誌 = IEEJ transactions on electronics, information and systems 112(4) 1992.04

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資料種別: 記事
タイトル: ICTS法によるSi-MOS界面準位の測定
著者・編者: 吉田晴彦他
著者標目: 吉田晴彦
タイトル（掲載誌）: 電気学会論文誌. C, 電子・情報・システム部門誌 = IEEJ transactions on electronics, information and systems
巻号年月日等（掲載誌）: 112(4) 1992.04
掲載巻: 112
掲載号: 4
掲載ページ: p231～238
掲載年月日（W3CDTF）: 1992-04
ISSN（掲載誌）: 0385-4221
ISSN-L（掲載誌）: 0385-4221
出版事項（掲載誌）: 東京 : 電気学会
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: jpn
NDLC: ZN31
対象利用者: 一般
記事種別、記事分類: 記事分類: 電気工学--電子工学--電子部品--固体素子
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z16-795
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 3770084
http://id.ndl.go.jp/bib/3770084
整理区分コード: 632