A Simplified Method for Measuring Thermal e.m.f.of Semiconductor Films with High Resistivity

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資料種別: 記事
タイトル: A Simplified Method for Measuring Thermal e.m.f.of Semiconductor Films with High Resistivity
著者・編者: 斎藤順雄
著者標目: 斎藤順雄
タイトル（掲載誌）: 高松工業高等専門学校研究紀要
巻号年月日等（掲載誌）: (通号 31) 1996.03
掲載通号: 31
掲載ページ: 15～18
掲載年月日（W3CDTF）: 1996-03
ISSN（掲載誌）: 0389-9268
ISSN-L（掲載誌）: 0389-9268
出版事項（掲載誌）: 高松 : 高松工業高等専門学校
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: eng
NDLC: ZV1
対象利用者: 一般
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z22-841
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 3956173
http://id.ndl.go.jp/bib/3956173
整理区分コード: 632