オージェ電子分光装置によるアルミニウム及びマグネシウム基板上の薄膜からのX線光電子測定

• 資料種別: 記事
• タイトル: オージェ電子分光装置によるアルミニウム及びマグネシウム基板上の薄膜からのX線光電子測定
• 著者・編者: 山本 収陽; 松田 秀幸; 広川 吉之助
• 著者標目: 山本 収陽; 松田 秀幸; 広川 吉之助
• タイトル（掲載誌）: 分析化学 / 日本分析化学会 編
• 巻号年月日等（掲載誌）: 45(9) 1996.09
• 掲載巻: 45
• 掲載号: 9
• 掲載ページ: 873～877
• 掲載年月日（W3CDTF）: 1996-09
• ISSN（掲載誌）: 0525-1931
• ISSN-L（掲載誌）: 0525-1931
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 日本分析化学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• NDLC: ZP4
• 対象利用者: 一般
• コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 学術機関 > 学協会; https://dl.ndl.go.jp/collections/B00043
• オンライン閲覧公開範囲: インターネット公開
• 遠隔複写可否（NDL）: 不可
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z17-9
• 関連情報（URI）: http://dl.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/10893901
• 関連情報（国立国会図書館永続的識別子）: info:ndljp/pid/10893901; http://dl.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/10893901
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 4056983; http://id.ndl.go.jp/bib/4056983
• 整理区分コード: 632

• 要約等: オージェ電子分光装置を用いてアルミニウム又はマグネシウム基板上に金属薄膜を蒸着した試料に対して,膜側から電子線を照射し光電子を測定する実験を行った.十分薄く薄膜を蒸着した基板に対して,薄膜側から電子線を照射すると基板から特性X線が発生し,そのX線により薄膜原子が励起されて光電子が発生する.その結果A...