〔日本電子顕微鏡学会〕先端材料解析研究部会・成果報告イオンミリング技法とウルトラミクロトーム(超薄切片)技法のラウンドロビンテスト--工業材料における電顕観察用薄膜作製技術の標準化

〔日本電子顕微鏡学会〕先端材料解析研究部会・成果報告イオンミリング技法とウルトラミクロトーム(超薄切片)技法のラウンドロビンテスト--工業材料における電顕観察用薄膜作製技術の標準化

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資料種別: 記事
タイトル: 〔日本電子顕微鏡学会〕先端材料解析研究部会・成果報告イオンミリング技法とウルトラミクロトーム(超薄切片)技法のラウンドロビンテスト--工業材料における電顕観察用薄膜作製技術の標準化
著者・編者: 朝倉健太郎
堀内繁雄
広畑泰久他
著者標目: 朝倉健太郎
堀内繁雄
広畑泰久
タイトル（掲載誌）: 電子顕微鏡 / 「電子顕微鏡」編集委員会編
巻号年月日等（掲載誌）: 32(1) 1997.03
掲載巻: 32
掲載号: 1
掲載ページ: 52～55
掲載年月日（W3CDTF）: 1997-03
ISSN（掲載誌）: 0417-0326
ISSN-L（掲載誌）: 0417-0326
出版事項（掲載誌）: 東京 : 日本顕微鏡学会
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: jpn
NDLC: ZN33
対象利用者: 一般
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z16-896
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 4193665
http://id.ndl.go.jp/bib/4193665
整理区分コード: 632