Development of Stroboscopic Microscope Using Fringe Scanning Interferometry Technique(FSIT) (特集「センシング--システムからデバイスまで」)

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Development of Stroboscopic Microscope Using Fringe Scanning Interferometry Technique(FSIT)(特集「センシング--システムからデバイスまで」)

国立国会図書館請求記号
Z14-482
国立国会図書館書誌ID
4256680
資料種別
記事
著者
Ken Nakanoほか
出版者
東京 : 計測自動制御学会 ; [1965]-
出版年
1997-07
資料形態
掲載誌名
計測自動制御学会論文集 = Transactions of the Society of Instrument and Control Engineers 33(7) 1997.07
掲載ページ
p.570~575
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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
Ken Nakano
Kazuhiro Hane
Shigeru Okuma 他
タイトル(掲載誌)
計測自動制御学会論文集 = Transactions of the Society of Instrument and Control Engineers
巻号年月日等(掲載誌)
33(7) 1997.07
掲載巻
33
掲載号
7
掲載ページ
570~575