Development of Stroboscopic Microscope Using Fringe Scanning Interferometry Technique(FSIT) (特集「センシング--システムからデバイスまで」)

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Development of Stroboscopic Microscope Using Fringe Scanning Interferometry Technique(FSIT)(特集「センシング--システムからデバイスまで」)

掲載誌名: 計測自動制御学会論文集 = Transactions of the Society of Instrument and Control Engineers 33(7) 1997.07

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資料種別: 記事
タイトル: Development of Stroboscopic Microscope Using Fringe Scanning Interferometry Technique(FSIT)
著者・編者: Ken Nakano
Kazuhiro Hane
Shigeru Okuma 他
シリーズタイトル: 特集「センシング--システムからデバイスまで」
著者標目: Ken Nakano
Kazuhiro Hane
Shigeru Okuma
タイトル（掲載誌）: 計測自動制御学会論文集 = Transactions of the Society of Instrument and Control Engineers
巻号年月日等（掲載誌）: 33(7) 1997.07
掲載巻: 33
掲載号: 7
掲載ページ: 570～575
掲載年月日（W3CDTF）: 1997-07
ISSN（掲載誌）: 0453-4654
ISSN-L（掲載誌）: 0453-4654
出版事項（掲載誌）: 東京 : 計測自動制御学会 ; [1965]-
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: eng
NDLC: ZM11
対象利用者: 一般
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z14-482
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 4256680
http://id.ndl.go.jp/bib/4256680
整理区分コード: 632