Basic Control Characteristics of Novel Schottky In-Plane and Wrap Gate Structures Studied by Simulation and Transport Measurements in GaAs and InGaAs Quantum Wires (The 4th International Colloquium on Scanning Tunneling Microscopy)

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Basic Control Characteristics of Novel Schottky In-Plane and Wrap Gate Structures Studied by Simulation and Transport Measurements in GaAs and InGaAs Quantum Wires(The 4th International Colloquium on Scanning Tunneling Microscopy)

国立国会図書館請求記号
Z53-A375
国立国会図書館書誌ID
4260238
資料種別
記事
著者
Hiroshi Okadaほか
出版者
Tokyo : Published by the Japan Society of Applied Physics through the Institute of Pure and Applied Physics
出版年
1997-06
資料形態
デジタル
掲載誌名
Japanese journal of applied physics. Part. 1, Regular papers, brief communications & review papers : JJAP 36(6B) 1997.06
掲載ページ
p.4156~4160
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資料詳細

要約等:

To clarify the control properties of Schottky in-plane gates (IPGs) and Schottky wrap-gates (WPGs) recently employed in the high-temperature operation...

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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
Hiroshi Okada
Seiya Kasai
Hajime Fujikura 他
タイトル(掲載誌)
Japanese journal of applied physics. Part. 1, Regular papers, brief communications & review papers : JJAP
巻号年月日等(掲載誌)
36(6B) 1997.06
掲載巻
36
掲載号
6B
掲載ページ
4156~4160