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電子分光法による酸化シリコン測定時のダメージについて (第16回表面科学講演大会論文特集2)

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電子分光法による酸化シリコン測定時のダメージについて(第16回表面科学講演大会論文特集2)

国立国会図書館請求記号
Z15-379
国立国会図書館書誌ID
4266100
資料種別
記事
著者
中村 誠ほか
出版者
東京 : 日本表面科学会
出版年
1997-08
資料形態
デジタル
掲載誌名
表面科学 = Journal of the Surface Science Society of Japan / 日本表面科学会 編 18(8) 1997.08
掲載ページ
p.473~477
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
中村 誠
岸田 悟
鈴木 峰晴 他
タイトル(掲載誌)
表面科学 = Journal of the Surface Science Society of Japan / 日本表面科学会 編
巻号年月日等(掲載誌)
18(8) 1997.08
掲載巻
18
掲載号
8
掲載ページ
473~477