低コヒーレンス光干渉による面内複屈折測定(特集応用が広がる光センシング技術と関連デバイス)

掲載誌名: 電気学会論文誌. E, センサ・マイクロマシン部門誌 = IEEJ transactions on sensors and micromachines 119(6) 1999.06

全国の図書館の所蔵

国立国会図書館以外の全国の図書館の所蔵状況を表示します。

所蔵のある図書館から取寄せることが可能かなど、資料の利用方法は、ご自身が利用されるお近くの図書館へご相談ください

その他

CiNii Research
検索サービス
デジタル
連携先のサイトで、CiNii Researchが連携している機関・データベースの所蔵状況を確認できます。
この本の所蔵を確認

この資料の詳細や典拠（同じ主題の資料を指すキーワード、著者名）等を確認できます。

資料種別: 記事
タイトル: 低コヒーレンス光干渉による面内複屈折測定
著者・編者: 西壽巳
井上将吾
満山照樹他
シリーズタイトル: 特集応用が広がる光センシング技術と関連デバイス
著者標目: 西壽巳
井上将吾
満山照樹
タイトル（掲載誌）: 電気学会論文誌. E, センサ・マイクロマシン部門誌 = IEEJ transactions on sensors and micromachines
巻号年月日等（掲載誌）: 119(6) 1999.06
掲載巻: 119
掲載号: 6
掲載ページ: 315～319
掲載年月日（W3CDTF）: 1999-06
ISSN（掲載誌）: 1341-8939
ISSN-L（掲載誌）: 1341-8939
出版事項（掲載誌）: 東京 : 電気学会
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: jpn
NDLC: ZN31
対象利用者: 一般
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z16-B380
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 4739486
http://id.ndl.go.jp/bib/4739486
整理区分コード: 632