GaAsMESFETにおけるゲートラグに対する表面トラップ効果のシミュレーション

• 資料種別: 記事
• タイトル: GaAsMESFETにおけるゲートラグに対する表面トラップ効果のシミュレーション
• 著者・編者: 蓮見 由美子; 古寺 博
• 著者標目: 蓮見 由美子; 古寺 博
• タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
• 巻号年月日等（掲載誌）: 99 (通号 553) 2000.01.19
• 掲載巻: 99
• 掲載通号: 553
• 掲載ページ: 17～22
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2000-01-19
• ISSN（掲載誌）: 0913-5685
• ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• NDLC: ZN33
• 対象利用者: 一般
• レポート番号（雑誌記事）: ED99-261
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-940
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 4988745; http://id.ndl.go.jp/bib/4988745
• 整理区分コード: 632