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雑誌
電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
巻号
100(164)-100(174) 20000700-20000700
記事
走査型変位電流顕微鏡...
走査型変位電流顕微鏡の開発 (特集:強誘電・圧電材料とその応用及び一般)
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走査型変位電流顕微鏡の開発
(特集:強誘電・圧電材料とその応用及び一般)
国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
5481012
資料種別
記事
著者
奥田 敦ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2000-07-07
資料形態
紙
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 100(165) 2000.7.7
掲載ページ
p.5~10
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書誌情報
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書誌情報を出力
紙
資料種別
記事
タイトル
走査型変位電流顕微鏡の開発
著者・編者
奥田 敦
上原 摂理
増田 朋彦 他
シリーズタイトル
特集:強誘電・圧電材料とその応用及び一般
著者標目
奥田 敦
上原 摂理
増田 朋彦
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
100(165) 2000.7.7
掲載巻
100
掲載号
165
掲載ページ
5~10
掲載年月日(W3CDTF)
2000-07-07
ISSN(掲載誌)
0913-5685
ISSN-L(掲載誌)
0913-5685
出版事項(掲載誌)
東京 : 電子情報通信学会
出版地(国名コード)
JP
本文の言語コード
jpn
件名標目
走査型プローブ顕微鏡
トンネル電流
キャリア濃度
Scanning Probe Microscopy
displacement current
tunneling current
dopant profile
NDLC
ZN33
対象利用者
一般
レポート番号(雑誌記事)
EMD2000-21
所蔵機関
国立国会図書館
請求記号
Z16-940
連携機関・データベース
国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID(NDLBibID)
5481012
http://id.ndl.go.jp/bib/5481012
整理区分コード
632
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