巻号30(2)(72)
X線反射率法による薄...

X線反射率法による薄膜の精密構造評価

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X線反射率法による薄膜の精密構造評価

国立国会図書館請求記号
Z16-1585
国立国会図書館書誌ID
5577222
資料種別
記事
著者
小島 勇夫
出版者
昭島 : 理学電機
出版年
1999-10
資料形態
デジタル
掲載誌名
理学電機ジャーナル / 理学電機ジャーナル編集委員会 編 30(2) (通号 72) 1999.10
掲載ページ
p.4~13
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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
小島 勇夫
著者標目
タイトル(掲載誌)
理学電機ジャーナル / 理学電機ジャーナル編集委員会 編
巻号年月日等(掲載誌)
30(2) (通号 72) 1999.10
掲載巻
30
掲載号
2
掲載通号
72
掲載ページ
4~13