鉛フリーはんだ接合部の接合信頼性に対する金属間化合物層の影響(MES2000 第10回マイクロエレクトロニクスシンポジウム)

• 資料種別: 記事
• タイトル: 鉛フリーはんだ接合部の接合信頼性に対する金属間化合物層の影響
• 著者・編者: 于 強; 白鳥 正樹; 金 道變
• シリーズタイトル: MES2000 第10回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
• 著者標目: 于 強; 白鳥 正樹; 金 道變
• タイトル（掲載誌）: マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集
• 巻号年月日等（掲載誌）: 10 2000.11.9・10
• 掲載巻: 10
• 掲載ページ: 227～230
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2000-11
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : エレクトロニクス実装学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• NDLC: ZN33
• 対象利用者: 一般
• コレクション（共通）: 障害者向け資料
• コレクション（障害者向け資料：レベル1）: テキストデータ
• コレクション（障害者向け資料：レベル2）: プレーンテキスト
• コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 雑誌; https://dl.ndl.go.jp/collections/A00002
• オンライン閲覧公開範囲: 国立国会図書館内限定公開
• デジタル化資料送信: 図書館・個人送信対象外
• 遠隔複写可否（NDL）: 可
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-1617
• 掲載誌（国立国会図書館永続的識別子）: info:ndljp/pid/3312684; https://dl.ndl.go.jp/pid/3312684
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 5636001; http://id.ndl.go.jp/bib/5636001
• 整理区分コード: 632