IDDQ故障診断方式を用いたCMOS製造工程における欠陥箇所特定とそのモード分類 (特集 LSIシステムの実装・モジュール化,テスト技術)
この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。