厚さの異なるSiO2キャップを用いた歪量子井戸選択的無秩序化によるレーザと受動素子の集積化

• 資料種別: 記事
• タイトル: 厚さの異なるSiO2キャップを用いた歪量子井戸選択的無秩序化によるレーザと受動素子の集積化
• 著者・編者: 福本 豊; 島田 尚往; 上向井 正裕 他
• 著者標目: 福本 豊; 島田 尚往; 上向井 正裕
• タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
• 巻号年月日等（掲載誌）: 100(589) 2001.1.26
• 掲載巻: 100
• 掲載号: 589
• 掲載ページ: 13～18
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2001-01-26
• ISSN（掲載誌）: 0913-5685
• ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: 半導体レーザ; モノリシック集積化; 量子井戸無秩序化; 高速熱処理; semiconductor laser; monolithic integration; quantum well disordering; rapid termal annealing
• NDLC: ZN33
• 対象利用者: 一般
• レポート番号（雑誌記事）: OFT2000-78
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-940
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 5674179; http://id.ndl.go.jp/bib/5674179
• 整理区分コード: 632