解説・研究紹介 KFMによるGaAs(110)面上InAs薄膜表面のポテンシャル計測(小特集:ケルビンフォース法による表面電位測定技術の現状)

• 資料種別: 記事
• タイトル: 解説・研究紹介 KFMによるGaAs(110)面上InAs薄膜表面のポテンシャル計測
• 著者・編者: 高橋 琢二; 小野 志亜之
• シリーズタイトル: 小特集:ケルビンフォース法による表面電位測定技術の現状
• 著者標目: 高橋 琢二; 小野 志亜之
• タイトル（掲載誌）: 表面科学 = Journal of the Surface Science Society of Japan / 日本表面科学会 編
• 巻号年月日等（掲載誌）: 22(5) 2001.5
• 掲載巻: 22
• 掲載号: 5
• 掲載ページ: 309～314
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2001-05
• ISSN（掲載誌）: 0388-5321
• ISSN-L（掲載誌）: 0388-5321
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 日本表面科学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• NDLC: ZM35
• 対象利用者: 一般
• コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 学術機関 > 学協会; https://dl.ndl.go.jp/collections/B00043
• オンライン閲覧公開範囲: インターネット公開
• 遠隔複写可否（NDL）: 不可
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z15-379
• 関連情報（URI）: http://dl.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/8327082
• 関連情報（国立国会図書館永続的識別子）: info:ndljp/pid/8327082; http://dl.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/8327082
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 5755948; http://id.ndl.go.jp/bib/5755948
• 整理区分コード: 632

• 要約等: Using Kelvin probe force microscopy (KFM), we have measured the surface potential of InAs thin films grown on flat or vicinal surfaces of GaAs(110) su...