Study of electron irradiation effect on CuInSe2 thin films

• 資料種別: 記事
• タイトル: Study of electron irradiation effect on CuInSe2 thin films
• 著者・編者: 李 海錫; 海江田 理; 藤田 尚樹 他
• 著者標目: 李 海錫; 海江田 理; 藤田 尚樹
• 並列タイトル等: CuInSe2薄膜の電子線照射効果の検討
• タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
• 巻号年月日等（掲載誌）: 101(78) 2001.5.24
• 掲載巻: 101
• 掲載号: 78
• 掲載ページ: 25～29
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2001-05-24
• ISSN（掲載誌）: 0913-5685
• ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: 照射欠陥; キャリア消滅速度; 太陽電池; irradiation induced defect; carrier removal rate; solar cell
• NDLC: ZN33
• 対象利用者: 一般
• レポート番号（雑誌記事）: ED2001-18
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-940
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 5801487; http://id.ndl.go.jp/bib/5801487
• 整理区分コード: 632