複合酸化物のイオン衝撃による二次電子放出特性--保護層材料の二次電子放出特性自動計測における回路設計

• 資料種別: 記事
• タイトル: 複合酸化物のイオン衝撃による二次電子放出特性--保護層材料の二次電子放出特性自動計測における回路設計
• 著者・編者: 後藤 貞浩; 平川 貴義; 内池 平樹 他
• 著者標目: 後藤 貞浩; 平川 貴義; 内池 平樹
• タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
• 巻号年月日等（掲載誌）: 102(121) 2002.6.17
• 掲載巻: 102
• 掲載号: 121
• 掲載ページ: 19～24
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2002-06-17
• ISSN（掲載誌）: 0913-5685
• ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: イオン衝撃による二次電子放出比; 自動計測制御; 微小電流計測; Secondary Electron Emission Characteristics by Ion Bombardment; Automatic Measurement System; Nano-current Measurement; Protecting Layer
• NDLC: ZN33
• 対象利用者: 一般
• レポート番号（雑誌記事）: EID2002-4
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-940
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 6221571; http://id.ndl.go.jp/bib/6221571
• 整理区分コード: 632