Characterization of Metal Oxide Surfaces and Thin Semiconductor Films by Inelastic Electron Tunneling Spectroscopy

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Characterization of Metal Oxide Surfaces and Thin Semiconductor Films by Inelastic Electron Tunneling Spectroscopy

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資料種別: 記事
タイトル: Characterization of Metal Oxide Surfaces and Thin Semiconductor Films by Inelastic Electron Tunneling Spectroscopy
著者・編者: Morihide Higo
Satsuo Kamata
著者標目: Morihide Higo
Satsuo Kamata
タイトル（掲載誌）: Analytical Sciences
巻号年月日等（掲載誌）: 18(3) (通号 118) 2002
掲載巻: 18
掲載号: 3
掲載通号: 118
掲載ページ: 227～242
掲載年月日（W3CDTF）: 2002
ISSN（掲載誌）: 0910-6340
ISSN-L（掲載誌）: 0910-6340
出版事項（掲載誌）: Tokyo : Japan Society for Analytical Chemistry
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: eng
NDLC: ZP4
対象利用者: 一般
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z54-F482
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 6262427
http://id.ndl.go.jp/bib/6262427
整理区分コード: 632