Applications of Cryo-Analytical Electron Microscopy for Characterization of AgX-Based Photographic Systems and Their Microcomponents

掲載誌名: 日本写真学会誌 = Journal of the Society of Photography and Imaging of Japan 65(5) 2002.9

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資料種別: 記事
タイトル: Applications of Cryo-Analytical Electron Microscopy for Characterization of AgX-Based Photographic Systems and Their Microcomponents
著者・編者: Vladimir P. Oleshko
James M. Howe
著者標目: Vladimir P. Oleshko
James M. Howe
並列タイトル等: AgX写真システムとそのミクロ成分の特性測定に対する低温分析電子顕微鏡の応用
タイトル（掲載誌）: 日本写真学会誌 = Journal of the Society of Photography and Imaging of Japan
巻号年月日等（掲載誌）: 65(5) 2002.9
掲載巻: 65
掲載号: 5
掲載ページ: 332～341
掲載年月日（W3CDTF）: 2002-09
ISSN（掲載誌）: 0369-5662
ISSN-L（掲載誌）: 0369-5662
出版事項（掲載誌）: 東京 : 日本写真学会
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: eng
件名標目: AgX photographic materials
AgX micro-/nanocrystals
cryo-AEM
EFTEM/(P)EELS
STEM/EDX
NDLC: ZP48
対象利用者: 一般
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z17-495
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 6322313
http://id.ndl.go.jp/bib/6322313
整理区分コード: 632