Influence of Thernal Stress on Contact Resistance of Mounted Electrical Contacts on Printed Circuit Board (国際セッションIS-EMD2002〔英文〕)

Influence of Thernal Stress on Contact Resistance of Mounted Electrical Contacts on Printed Circuit Board

(国際セッションIS-EMD2002〔英文〕)

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資料種別: 記事
タイトル: Influence of Thernal Stress on Contact Resistance of Mounted Electrical Contacts on Printed Circuit Board
著者・編者: Masanari Taniguchi
Hiroyuki Ishida
Tasuku Takagi
シリーズタイトル: 国際セッションIS-EMD2002〔英文〕
著者標目: Masanari Taniguchi
Hiroyuki Ishida
Tasuku Takagi
タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等（掲載誌）: 102(452) 2002.11.14
掲載巻: 102
掲載号: 452
掲載ページ: 15～20
掲載年月日（W3CDTF）: 2002-11-14
ISSN（掲載誌）: 0913-5685
ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: eng
件名標目: Pattern measurement
Holography
NDLC: ZN33
対象利用者: 一般
レポート番号（雑誌記事）: EMD2002-58
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z16-940
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 6402885
http://id.ndl.go.jp/bib/6402885
整理区分コード: 632