原子間力顕微鏡および小角X線散乱によるセルロース繊維の表面構造解析(特集高分子材料)

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資料種別: 記事
タイトル: 原子間力顕微鏡および小角X線散乱によるセルロース繊維の表面構造解析
著者・編者: 巽大輔
田結庄義博
松本孝芳
シリーズタイトル: 特集高分子材料
著者標目: 巽大輔
田結庄義博
松本孝芳
タイトル（掲載誌）: 材料 / 日本材料学会 [編]
巻号年月日等（掲載誌）: 51(12) 2002.12
掲載巻: 51
掲載号: 12
掲載ページ: 1295～1298
掲載年月日（W3CDTF）: 2002-12
ISSN（掲載誌）: 0514-5163
ISSN-L（掲載誌）: 0514-5163
出版事項（掲載誌）: 京都 : 日本材料学会
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: jpn
件名標目: Atomic force microscopy
AFM
Autocorrelation
Fourier analysis
Fractal dimensions
Microfibrils
Periodic variations
Surface structure
X-ray diffraction
NDLC: ZM16
対象利用者: 一般
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z14-267
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 6404748
http://id.ndl.go.jp/bib/6404748
整理区分コード: 632