還元脱離のボルタンメ...

還元脱離のボルタンメトリーを利用するチオール自己組織膜の吸着状態解析 (特集 電気分析化学の新領域への展開)

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還元脱離のボルタンメトリーを利用するチオール自己組織膜の吸着状態解析(特集 電気分析化学の新領域への展開)

国立国会図書館請求記号
Z17-9
国立国会図書館書誌ID
6405801
資料種別
記事
著者
垣内 隆ほか
出版者
東京 : 日本分析化学会
出版年
2002-12
資料形態
デジタル
掲載誌名
分析化学 / 日本分析化学会 編 51(12) 2002.12
掲載ページ
p.1089~1101
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資料詳細

要約等:

金属表面に形成されたチオール誘導体自己組織単分子膜 (SAM) の還元的脱離のサイクリックボルタンメトリーの研究例を紹介した. 還元脱離過程は, SAMの状態を分析するのに有効である. SAM中の分子間相互作用, 二成分系の相挙動などの構造的な情報だけでなく, 吸着した分子の溶液中の分子との置換反応...

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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
垣内 隆
保原 大介
タイトル(掲載誌)
分析化学 / 日本分析化学会 編
巻号年月日等(掲載誌)
51(12) 2002.12
掲載巻
51
掲載号
12
掲載ページ
1089~1101