全反射全転換電子収量X線吸収微細構造による水溶液表面でのイオンの溶媒和構造解析(特集:光を使った分析の最前線)

• 資料種別: 記事
• タイトル: 全反射全転換電子収量X線吸収微細構造による水溶液表面でのイオンの溶媒和構造解析
• 著者・編者: 原田 誠; 岡田 哲男; 谷田 肇 他
• シリーズタイトル: 特集:光を使った分析の最前線
• 著者標目: 原田 誠; 岡田 哲男; 谷田 肇
• タイトル（掲載誌）: 分析化学 / 日本分析化学会 編
• 巻号年月日等（掲載誌）: 52(6) 2003.6
• 掲載巻: 52
• 掲載号: 6
• 掲載ページ: 405～418
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2003-06
• ISSN（掲載誌）: 0525-1931
• ISSN-L（掲載誌）: 0525-1931
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 日本分析化学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: solution surface; solvation structures of ions; X-ray absorption fine structure; surface monolayers
• NDLC: ZP4
• 対象利用者: 一般
• コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 学術機関 > 学協会; https://dl.ndl.go.jp/collections/B00043
• オンライン閲覧公開範囲: インターネット公開
• 遠隔複写可否（NDL）: 不可
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z17-9
• 関連情報（URI）: http://dl.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/10895484
• 関連情報（国立国会図書館永続的識別子）: info:ndljp/pid/10895484; http://dl.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/10895484
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 6616760; http://id.ndl.go.jp/bib/6616760
• 整理区分コード: 632

• 要約等: X線吸収微細構造（XAFS）により様々な試料の局所構造解析が行われ，固体試料表面へ適用した報告例もあるが，水溶液表面でのXAFS測定には多くの制約が伴い，容易には測定できなかった．本論文では水溶液表面への新しいアプローチとして開発した全反射全転換電子収量法（TRTCY）によるXAFS測定の原理，装置...