状態集合分割を用いる論理シミュレーションによる順序回路のテスト生成 (デザインガイア2003--VLSI設計の新しい大地を考える研究会)

状態集合分割を用いる論理シミュレーションによる順序回路のテスト生成

(デザインガイア2003--VLSI設計の新しい大地を考える研究会)

国立国会図書館請求記号: Z16-940
国立国会図書館書誌ID: 6795949

資料種別: 記事

著者: 佐野広和ほか

出版者: 東京 : 電子情報通信学会

出版年: 2003-11-28

資料形態: 紙

掲載誌名: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 103(476) 2003.11.28

掲載ページ: p.1～6

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資料種別: 記事
タイトル: 状態集合分割を用いる論理シミュレーションによる順序回路のテスト生成
著者・編者: 佐野広和
四柳浩之
橋爪正樹他
シリーズタイトル: デザインガイア2003--VLSI設計の新しい大地を考える研究会
著者標目: 佐野広和
四柳浩之
橋爪正樹
タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等（掲載誌）: 103(476) 2003.11.28
掲載巻: 103
掲載号: 476
掲載ページ: 1～6
掲載年月日（W3CDTF）: 2003-11-28
ISSN（掲載誌）: 0913-5685
ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: jpn
件名標目: state partitioning
logic simulation
test generate
sequential circuit
NDLC: ZN33
対象利用者: 一般
レポート番号（雑誌記事）: VLD2003-70
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z16-940
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 6795949
http://id.ndl.go.jp/bib/6795949
整理区分コード: 632

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