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雑誌
電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
巻号
103(477)-103(486) 20031100-20031100
記事
単電子論理回路の故障...
単電子論理回路の故障モード解析 (デザインガイア2003--VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
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単電子論理回路の故障モード解析
(デザインガイア2003--VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
6796918
資料種別
記事
著者
大豆生田 利章
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2003-11-28
資料形態
紙
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 103(478) 2003.11.28
掲載ページ
p.7~11
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書誌情報
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書誌情報を出力
紙
資料種別
記事
タイトル
単電子論理回路の故障モード解析
著者・編者
大豆生田 利章
シリーズタイトル
デザインガイア2003--VLSI設計の新しい大地を考える研究会
著者標目
大豆生田 利章
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
103(478) 2003.11.28
掲載巻
103
掲載号
478
掲載ページ
7~11
掲載年月日(W3CDTF)
2003-11-28
ISSN(掲載誌)
0913-5685
ISSN-L(掲載誌)
0913-5685
出版事項(掲載誌)
東京 : 電子情報通信学会
出版地(国名コード)
JP
本文の言語コード
jpn
件名標目
単電子トンネルトランジスタ
モンテカルロ法
故障解析
論理故障
故障モデル
Single Electron Tunneling Transistor
Single Electron Logic Circuit
Monte Carlo Method
Fault Analysis
Logical Fault
Fault Model
NDLC
ZN33
対象利用者
一般
レポート番号(雑誌記事)
ICD2003-141
所蔵機関
国立国会図書館
請求記号
Z16-940
連携機関・データベース
国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID(NDLBibID)
6796918
http://id.ndl.go.jp/bib/6796918
整理区分コード
632
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