強可検査性に基づくデータパスのテストプラン生成アルゴリズムの改良について (デザインガイア2003--VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。