招待論文 低温多結晶シリコンTFTのデバイス特性や信頼性に及ぼす粒界の影響

• 資料種別: 記事
• タイトル: 招待論文 低温多結晶シリコンTFTのデバイス特性や信頼性に及ぼす粒界の影響
• 著者・編者: 土屋 敏章; 佐々木 伸夫
• 著者標目: 土屋 敏章; 佐々木 伸夫
• タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
• 巻号年月日等（掲載誌）: 104(7) 2004.4.16
• 掲載巻: 104
• 掲載号: 7
• 掲載ページ: 19～24
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2004-04-16
• ISSN（掲載誌）: 0913-5685
• ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: ホットキャリア信頼性; 電界効果移動度; サブスレッショルド係数; 基板浮遊効果; grain boundary; hot carrier reliability; field effect mobility; subthreshold slope; floating body effects
• NDLC: ZN33
• 対象利用者: 一般
• レポート番号（雑誌記事）: OME2004-10
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-940
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 6958306; http://id.ndl.go.jp/bib/6958306
• 整理区分コード: 632