減圧ヘリウム誘導結合プラズマ質量分析法による微量成分分析

• 資料種別: 記事
• タイトル: 減圧ヘリウム誘導結合プラズマ質量分析法による微量成分分析
• 著者・編者: 林 英男; 平出 正孝
• 著者標目: 林 英男; 平出 正孝
• タイトル（掲載誌）: 分析化学 / 日本分析化学会 編
• 巻号年月日等（掲載誌）: 53(8) 2004.8
• 掲載巻: 53
• 掲載号: 8
• 掲載ページ: 793～804
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2004-08
• ISSN（掲載誌）: 0525-1931
• ISSN-L（掲載誌）: 0525-1931
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 日本分析化学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: ICP-MS; helium plasma; trace analysis; electrothermal vaporization; laser ablation
• NDLC: ZP4
• 対象利用者: 一般
• コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 学術機関 > 学協会; https://dl.ndl.go.jp/collections/B00043
• オンライン閲覧公開範囲: インターネット公開
• 遠隔複写可否（NDL）: 不可
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z17-9
• 関連情報（URI）: http://dl.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/10895839
• 関連情報（国立国会図書館永続的識別子）: info:ndljp/pid/10895839; http://dl.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/10895839
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 7064718; http://id.ndl.go.jp/bib/7064718
• 整理区分コード: 632

• 要約等: 通常の大気圧アルゴン誘導結合プラズマ質量分析法（ICP-MS）では，アルゴンや大気成分に起因したバックグラウンドスペクトルによる定量妨害，及びイオン化電圧の高い元素の感度不足がしばしば問題となる．本研究では，これらの点を解決するため，減圧ヘリウムICP-MSを基礎及び応用の両方面から研究した．すなわ...