スキャン極性調節とピンポイントテスト変換によるテスト圧縮

• 資料種別: 記事
• タイトル: スキャン極性調節とピンポイントテスト変換によるテスト圧縮
• 著者・編者: 土井 康稔; 梶原 誠司; 温 暁青 他
• シリーズタイトル: デザインガイア2004--VLSI設計の新しい大地を考える研究会
• 著者標目: 土井 康稔; 梶原 誠司; 温 暁青
• タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
• 巻号年月日等（掲載誌）: 104(480) 2004.12.2
• 掲載巻: 104
• 掲載号: 480
• 掲載ページ: 103～108
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2004-12-02
• ISSN（掲載誌）: 0913-5685
• ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: ランレングス符号; テストパターン変換; ゲーテッドスキャンチェーン; run-length codes; test relaxation; gated scan chain
• NDLC: ZN33
• 対象利用者: 一般
• レポート番号（雑誌記事）: ICD2004-164
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-940
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 7222992; http://id.ndl.go.jp/bib/7222992
• 整理区分コード: 632