Surface Structure of Commercial Si3N4 Powders Analyzed by X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)

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Surface Structure of Commercial Si3N4 Powders Analyzed by X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)

国立国会図書館請求記号
Z17-249
国立国会図書館書誌ID
7685328
資料種別
記事
著者
Tran Thi Thu Hienほか
出版者
東京 : 日本セラミックス協会
出版年
2005-10
資料形態
掲載誌名
日本セラミックス協会学術論文誌 / 日本セラミックス協会 [編] 113(1322) 2005.10
掲載ページ
p.647~653
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
Tran Thi Thu Hien
Chanel Ishizaki
石崎 幸三
並列タイトル等
市販窒化ケイ素粉末表面構造のX線光電子分光(XPS)による解析
タイトル(掲載誌)
日本セラミックス協会学術論文誌 / 日本セラミックス協会 [編]
巻号年月日等(掲載誌)
113(1322) 2005.10
掲載巻
113
掲載号
1322
掲載ページ
647~653