赤外線サーモグラフィ...

赤外線サーモグラフィによる表面近傍の微小空洞欠陥の検出

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赤外線サーモグラフィによる表面近傍の微小空洞欠陥の検出

国立国会図書館請求記号
Z14-864
国立国会図書館書誌ID
7713370
資料種別
記事
著者
石井 明ほか
出版者
東京 : 日本材料試験技術協会
出版年
2005-10
資料形態
掲載誌名
材料試験技術 = Journal of Material Testing Research Association of Japan 50(4) 2005.10
掲載ページ
p.163~169
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
石井 明
尾崎 保史
平田 英之
タイトル(掲載誌)
材料試験技術 = Journal of Material Testing Research Association of Japan
巻号年月日等(掲載誌)
50(4) 2005.10
掲載巻
50
掲載号
4
掲載ページ
163~169
掲載年月日(W3CDTF)
2005-10