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Far-side漏洩磁束探傷法におけるニューラルネットワークを用いたきずの定量的評価手法

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Far-side漏洩磁束探傷法におけるニューラルネットワークを用いたきずの定量的評価手法

国立国会図書館請求記号
Z17-750
国立国会図書館書誌ID
7756328
資料種別
記事
著者
楊 旭ほか
出版者
東京 : 日本高圧力技術協会
出版年
2005
資料形態
掲載誌名
圧力技術 / 日本高圧力技術協会 [編] 43(6) (通号 253) 2005
掲載ページ
p.327~334
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
楊 旭
笠井 尚哉
関根 和喜
タイトル(掲載誌)
圧力技術 / 日本高圧力技術協会 [編]
巻号年月日等(掲載誌)
43(6) (通号 253) 2005
掲載巻
43
掲載号
6
掲載通号
253
掲載ページ
327~334