同位相構造に基づく特定用途を考慮したFPGA相互接続遅延テスト

• 資料種別: 記事
• タイトル: 同位相構造に基づく特定用途を考慮したFPGA相互接続遅延テスト
• 著者・編者: 矢葺 光佑; 大竹 哲史; 藤原 秀雄
• 著者標目: 矢葺 光佑; 大竹 哲史; 藤原 秀雄
• タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
• 巻号年月日等（掲載誌）: 105(448) 2005.12.1
• 掲載巻: 105
• 掲載号: 448
• 掲載ページ: 1～6
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2005-12-01
• ISSN（掲載誌）: 0913-5685
• ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: FPGA; パス遅延故障; 同位相構造; テストコンフィグレーション; テスト容易化コンフィグレーション; path delay fault; inphase structure; test configuration; configuration for testability
• NDLC: ZN33
• 対象利用者: 一般
• レポート番号（雑誌記事）: DC2005-38
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-940
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 7756803; http://id.ndl.go.jp/bib/7756803
• 整理区分コード: 632