招待講演 MOSFETを利用した室温での単一電子転送・検出とその応用--SOIを用いた素子作製と特性評価

• 資料種別: 記事
• タイトル: 招待講演 MOSFETを利用した室温での単一電子転送・検出とその応用--SOIを用いた素子作製と特性評価
• 著者・編者: 西口 克彦; 小野 行徳; 藤原 聡 他
• 著者標目: 西口 克彦; 小野 行徳; 藤原 聡
• タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
• 巻号年月日等（掲載誌）: 105(549) 2006.1.26
• 掲載巻: 105
• 掲載号: 549
• 掲載ページ: 23～28
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2006-01-26
• ISSN（掲載誌）: 0913-5685
• ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: 単一電子検出; 室温動作; single-electron transfer; single-electron detection; room-temperature operation
• NDLC: ZN33
• 対象利用者: 一般
• レポート番号（雑誌記事）: ED2005-228
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-940
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 7815462; http://id.ndl.go.jp/bib/7815462
• 整理区分コード: 632