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Data-Mining of Factors Affecting Circuit Connection Reliability on Laser-Drilled Micro Blind via Holes in Multi-Layer PWBs

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Data-Mining of Factors Affecting Circuit Connection Reliability on Laser-Drilled Micro Blind via Holes in Multi-Layer PWBs

国立国会図書館請求記号
Z53-E315
国立国会図書館書誌ID
8082318
資料種別
記事
著者
Keiji Ogawaほか
出版者
Tokyo : Japan Society of Mechanical Engineers
出版年
2006-10
資料形態
掲載誌名
JSME international journal. Ser. A, Solid mechanics and material engineering 49(4) 2006.10
掲載ページ
p.522~528
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
Keiji Ogawa
Toshiki Hirogaki
Eiichi Aoyama 他
タイトル(掲載誌)
JSME international journal. Ser. A, Solid mechanics and material engineering
巻号年月日等(掲載誌)
49(4) 2006.10
掲載巻
49
掲載号
4
掲載ページ
522~528
掲載年月日(W3CDTF)
2006-10