トレンチ横型パワーMOSFETのホットキャリア耐性

• 資料種別: 記事
• タイトル: トレンチ横型パワーMOSFETのホットキャリア耐性
• 著者・編者: 澤田 睦美; 松永 慎一郎; 山路 将晴 他
• 著者標目: 澤田 睦美; 松永 慎一郎; 山路 将晴
• タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
• 巻号年月日等（掲載誌）: 106(377) 2006.11.24
• 掲載巻: 106
• 掲載号: 377
• 掲載ページ: 15～20
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2006-11-24
• ISSN（掲載誌）: 0913-5685
• ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: RonQg; パワーIC; hot-carrier reliability; Power IC; Trench
• NDLC: ZN33
• 対象利用者: 一般
• レポート番号（雑誌記事）: R2006-34
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-940
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 8572034; http://id.ndl.go.jp/bib/8572034
• 整理区分コード: 632