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薄切・試料支持・電子...

薄切・試料支持・電子染色におけるトラブルシューティング (特集 電子顕微鏡試料作製におけるトラブルシューティング)

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薄切・試料支持・電子染色におけるトラブルシューティング

(特集 電子顕微鏡試料作製におけるトラブルシューティング)

国立国会図書館請求記号
Z16-896
国立国会図書館書誌ID
8780801
資料種別
記事
著者
北 重夫
出版者
東京 : 日本顕微鏡学会
出版年
2007
資料形態
掲載誌名
顕微鏡 = Microscopy / 「顕微鏡」編集委員会 編 42(1) 2007
掲載ページ
p.7~9
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
北 重夫
著者標目
並列タイトル等
Troubleshooting in thin sectioning, specimen support, and electron staining
タイトル(掲載誌)
顕微鏡 = Microscopy / 「顕微鏡」編集委員会 編
巻号年月日等(掲載誌)
42(1) 2007
掲載巻
42
掲載号
1