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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 長澤 忠広
- 著者標目
- 並列タイトル等
- Specimen preparation by using a broad argon ion beam for electron microscopy and surface analysis
- タイトル(掲載誌)
- ぶんせき / 日本分析化学会 編
- 巻号年月日等(掲載誌)
- 2007年(4) (通号 388) 2007.4
- 掲載巻
- 2007年
- 掲載号
- 4
- 掲載通号
- 388