電子顕微鏡・表面分析...

電子顕微鏡・表面分析のためのブロードなアルゴンイオンビームを用いた試料前処理法

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電子顕微鏡・表面分析のためのブロードなアルゴンイオンビームを用いた試料前処理法

国立国会図書館請求記号
Z17-729
国立国会図書館書誌ID
8787049
資料種別
記事
著者
長澤 忠広
出版者
東京 : 日本分析化学会
出版年
2007-04
資料形態
掲載誌名
ぶんせき / 日本分析化学会 編 2007年(4) (通号 388) 2007.4
掲載ページ
p.185~189
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
長澤 忠広
著者標目
並列タイトル等
Specimen preparation by using a broad argon ion beam for electron microscopy and surface analysis
タイトル(掲載誌)
ぶんせき / 日本分析化学会 編
巻号年月日等(掲載誌)
2007年(4) (通号 388) 2007.4
掲載巻
2007年
掲載号
4
掲載通号
388