漏洩磁束検量線法による表層欠陥のサイジング--アモルファスMIセンサを用いた二軸漏洩磁束探傷法(特集 第15回MAGDAコンファレンス)

• 資料種別: 記事
• タイトル: 漏洩磁束検量線法による表層欠陥のサイジング--アモルファスMIセンサを用いた二軸漏洩磁束探傷法
• 著者・編者: 安部 正高; 琵琶 志朗; 松本 英治
• シリーズタイトル: 特集 第15回MAGDAコンファレンス
• 著者標目: 安部 正高; 琵琶 志朗; 松本 英治
• 並列タイトル等: Sizing of surface flaws with magnetic flux leakage calibration curve method: 2-axis MFL testing by amorphous MI sensor
• タイトル（掲載誌）: 日本AEM学会誌 = Journal of the Japan Society of Applied Electromagnetics and Mechanics
• 巻号年月日等（掲載誌）: 15(2) 2007.6
• 掲載巻: 15
• 掲載号: 2
• 掲載ページ: 66～69
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2007-06
• ISSN（掲載誌）: 0919-4452
• ISSN-L（掲載誌）: 0919-4452
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 日本AEM学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: MFL testing; 2-axis sensing; dipole model; flaw detection; calibration curve method; AMI sensor
• NDLC: ZM35
• 対象利用者: 一般
• コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 学術機関 > 学協会; https://dl.ndl.go.jp/collections/B00043
• オンライン閲覧公開範囲: インターネット公開
• 遠隔複写可否（NDL）: 不可
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z15-B3
• 関連情報（URI）: http://dl.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/11148855
• 関連情報（国立国会図書館永続的識別子）: info:ndljp/pid/11148855; http://dl.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/11148855
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 8867341; http://id.ndl.go.jp/bib/8867341
• 整理区分コード: 632