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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 藤本 俊幸山岸 秀一東 康史
- 並列タイトル等
- X-ray reflectometry with SI traceability for thickness evaluation: reduction of uncertainty caused by surface flatness of specimens
- タイトル（掲載誌）
- 表面科学 = Journal of the Surface Science Society of Japan / 日本表面科学会 編
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 28(9) 2007.9
- 掲載巻
- 28
- 掲載号
- 9
- 掲載ページ
- 494～499