オージェ電子分光法に...

オージェ電子分光法における背面散乱補正(1)広い分析条件で使用可能な電子の背面散乱補正式の開発

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オージェ電子分光法における背面散乱補正(1)広い分析条件で使用可能な電子の背面散乱補正式の開発

国立国会図書館請求記号
Z15-B66
国立国会図書館書誌ID
8979213
資料種別
記事
著者
田沼 繁夫
出版者
東京 : 表面分析研究会
出版年
2007-07
資料形態
掲載誌名
Journal of surface analysis / 表面分析研究会 編 14(1) 2007.7
掲載ページ
p.9~19
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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
田沼 繁夫
著者標目
並列タイトル等
Backscattering correction for Auger electron spectroscopy (1) Development of an improved backscattering correction equation for wide analytical conditions
タイトル(掲載誌)
Journal of surface analysis / 表面分析研究会 編
巻号年月日等(掲載誌)
14(1) 2007.7
掲載巻
14
掲載号
1
掲載ページ
9~19