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雑誌
電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
巻号
107(249)-107(258) 20071000-20071000
記事
テスト実行コストを考...
テスト実行コストを考慮したペアワイズテストセット生成法の提案 (データ工学)
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テスト実行コストを考慮したペアワイズテストセット生成法の提案
(データ工学)
国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
9255297
資料種別
記事
著者
紀本 眞ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2007-10
資料形態
紙
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 107(254) 2007.10.15・16
掲載ページ
p.47~50
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書誌情報
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書誌情報を出力
紙
資料種別
記事
タイトル
テスト実行コストを考慮したペアワイズテストセット生成法の提案
著者・編者
紀本 眞
土屋 達弘
菊野 亨
シリーズタイトル
データ工学
著者標目
紀本 眞
土屋 達弘
菊野 亨
並列タイトル等
Designing pairwise testsets that optimize executing cost
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
107(254) 2007.10.15・16
掲載巻
107
掲載号
254
掲載ページ
47~50
掲載年月日(W3CDTF)
2007-10
ISSN(掲載誌)
0913-5685
ISSN-L(掲載誌)
0913-5685
出版事項(掲載誌)
東京 : 電子情報通信学会
出版地(国名コード)
JP
本文の言語コード
jpn
件名標目
ペアワイズテスト
ソフトウェアテスト
テストケース生成
テスト実行コスト
pairwise testing
software testing
testcase generation
test execution cost
NDLC
ZN33
対象利用者
一般
レポート番号(雑誌記事)
DE2007-123
所蔵機関
国立国会図書館
請求記号
Z16-940
連携機関・データベース
国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID(NDLBibID)
9255297
http://id.ndl.go.jp/bib/9255297
整理区分コード
632
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