無閉路可検査性に基づくテスト生成のための最適スルー木集合構成法 (VLSI設計技術)

無閉路可検査性に基づくテスト生成のための最適スルー木集合構成法

(VLSI設計技術)

国立国会図書館請求記号: Z16-940
国立国会図書館書誌ID: 9290885

資料種別: 記事

著者: 森永広介ほか

出版者: 東京 : 電子情報通信学会

出版年: 2007-11-20

資料形態: 紙

掲載誌名: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 107(334) 2007.11.20

掲載ページ: p.13～18

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資料種別: 記事
タイトル: 無閉路可検査性に基づくテスト生成のための最適スルー木集合構成法
著者・編者: 森永広介
岡伸也
吉川祐樹他
シリーズタイトル: VLSI設計技術
著者標目: 森永広介
岡伸也
吉川祐樹
並列タイトル等: An optimization of thru trees for test generation based on acyclical testability
タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等（掲載誌）: 107(334) 2007.11.20
掲載巻: 107
掲載号: 334
掲載ページ: 13～18
掲載年月日（W3CDTF）: 2007-11-20
ISSN（掲載誌）: 0913-5685
ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: jpn
件名標目: テスト生成
テスト容易化設計
無閉路可検査性
拡張無閉路可検査性
整数計画問題
test generation
design-for-testability
acyclical testability
extended acyclical testability
integer linear programming
ILP
NDLC: ZN33
対象利用者: 一般
レポート番号（雑誌記事）: VLD2007-72
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z16-940
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 9290885
http://id.ndl.go.jp/bib/9290885
整理区分コード: 632