Degradation phenomenon of electrical contacts by hammering oscillating mechanism: relation to sliding contact mechanism (Electromechanical devices)

記事を表すアイコン

Degradation phenomenon of electrical contacts by hammering oscillating mechanism: relation to sliding contact mechanism

(Electromechanical devices)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
9291225
資料種別
記事
著者
Shin-ichi Wadaほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2007-11
資料形態
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 107(309) 2007.11.14・15
掲載ページ
p.103~108
すべて見る

全国の図書館の所蔵

国立国会図書館以外の全国の図書館の所蔵状況を表示します。

所蔵のある図書館から取寄せることが可能かなど、資料の利用方法は、ご自身が利用されるお近くの図書館へご相談ください

その他

  • CiNii Research

    検索サービス
    連携先のサイトで、CiNii Researchが連携している機関・データベースの所蔵状況を確認できます。

書誌情報

この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。

資料種別
記事
著者・編者
Shin-ichi Wada
Taketo Sonoda
Hiroshi Amao 他
シリーズタイトル
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
107(309) 2007.11.14・15
掲載巻
107
掲載号
309
掲載ページ
103~108