製造後にタイミング補正可能なオンチップバスアーキテクチャ

• 資料種別: 記事
• タイトル: 製造後にタイミング補正可能なオンチップバスアーキテクチャ
• 著者・編者: 山口 聖貴; 室山 真徳; 石原 亨 他
• シリーズタイトル: VLSI設計技術
• 著者標目: 山口 聖貴; 室山 真徳; 石原 亨
• 並列タイトル等: An on-chip bus architecture for post-fabrication timing calibration
• タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
• 巻号年月日等（掲載誌）: 107(334) 2007.11.20
• 掲載巻: 107
• 掲載号: 334
• 掲載ページ: 55～60
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2007-11-20
• ISSN（掲載誌）: 0913-5685
• ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: 製造ばらつき; Deep Sub-Micron; 製造後性能補償; CMOS; Process Variation; Post-Fabrication Performance Compensation
• NDLC: ZN33
• 対象利用者: 一般
• レポート番号（雑誌記事）: VLD2007-79
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-940
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 9291257; http://id.ndl.go.jp/bib/9291257
• 整理区分コード: 632