人工物メトリック・システムにおける耐クローン性について--どのように耐クローン性を評価するか

• 資料種別: 記事
• タイトル: 人工物メトリック・システムにおける耐クローン性について--どのように耐クローン性を評価するか
• 著者・編者: 田村 裕子; 宇根 正志
• シリーズタイトル: オフィスインフォメーションシステム
• 著者標目: 田村 裕子; 宇根 正志
• 並列タイトル等: Clone resistance in artifact-metric systems: how to evaluate the clone resistance
• タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
• 巻号年月日等（掲載誌）: 107(347) 2007.11.21
• 掲載巻: 107
• 掲載号: 347
• 掲載ページ: 15～22
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2007-11-21
• ISSN（掲載誌）: 0913-5685
• ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: 偽造防止技術; 人工物メトリクス; 耐クローン性; 認証; 評価尺度; artifact-metrics; authentication; clone resistance; counterfeit deterrence; evaluation measure
• NDLC: ZN33
• 対象利用者: 一般
• レポート番号（雑誌記事）: OIS2007-63
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-940
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 9291665; http://id.ndl.go.jp/bib/9291665
• 整理区分コード: 632