半導体表面を裏から眺...

半導体表面を裏から眺める--半導体表面・界面反応の赤外分光解析

記事を表すアイコン

半導体表面を裏から眺める--半導体表面・界面反応の赤外分光解析

国立国会図書館請求記号
Z74-C327
国立国会図書館書誌ID
9438143
資料種別
記事
著者
庭野 道夫
出版者
羽村 : 日立国際電気
出版年
2007
資料形態
掲載誌名
日立国際電気技報 / 企画部研究管理課 編 (8) 2007年度版
掲載ページ
p.1~8
すべて見る

全国の図書館の所蔵

国立国会図書館以外の全国の図書館の所蔵状況を表示します。

所蔵のある図書館から取寄せることが可能かなど、資料の利用方法は、ご自身が利用されるお近くの図書館へご相談ください

その他

  • CiNii Research

    検索サービス
    連携先のサイトで、CiNii Researchが連携している機関・データベースの所蔵状況を確認できます。

書誌情報

この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。

資料種別
記事
著者・編者
庭野 道夫
著者標目
並列タイトル等
Investigating semiconductor surfaces from inside infrared spectroscopy study of chemical reaction occurring within semiconductor surfaces and interfaces
タイトル(掲載誌)
日立国際電気技報 / 企画部研究管理課 編
巻号年月日等(掲載誌)
(8) 2007年度版
掲載号
8
掲載ページ
1~8
掲載年月日(W3CDTF)
2007